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半導体・ディスプレイ
Water Vapor Desorption
低価格ワイドレンジSWIRカメラ ZephIR 2.5e
9103 USBピコアンメーター
ASDEX圧力計
広帯域中⾚外ピコ秒波⻑可変レーザー PT501シリーズ
中出力スーパーコンティニューム白色光源 ELECTROシリーズ
Enviro METROSシリーズ
ポータブル分光放射照度計
量子輸送測定システム Nanonis Tramea
超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM
フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED
顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder
高出力・完全空冷 産業用フェムト秒レーザー FemtoLux
ハイパースペクトル顕微鏡 IMA
オペランドKP-PYS材料分析システム
高性能レーザーラインチューナブルフィルター
静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM
FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計
超高感度ｓCMOSカメラ Marana
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
オプティカルコーティング装置用分光器 ESCORT SM
マイクロジュールクラス・フェムト秒産業用ファイバーレーザー FemtoLux 3
高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ
超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)
EBIC･EBACイメージングシステム
環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)
STEM用 CL/PL測定システム Monch
偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ
小型ストークスポラリメーター POLSNAP
微量水分測定装置 Spark H₂O
サブナノ秒LD励起マイクロチップレーザー(アクティブQスイッチ)
環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA
完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS
赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
摩耗・耐久性評価装置 ABREX
残留ガス分析計 RGA100/200/300 CIS100/200/300
AFM/SPMプローブ
TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)
Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)
UST(3次元表面形状測定器)
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
サブナノ秒LD励起レーザーシステム
サブナノ秒LD励起マイクロチップレーザー(パッシブQスイッチ)
可変周波数マイクロ波（VFM）オーブン
超低濃度ガス分析装置 HALO3シリーズ
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30
仕事関数測定システム(APSシリーズ)
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager
材料表面・塗膜反射率測定装置
高精度バンドルファイバー
高感度ダブルパルスLIBS
ポータブルラマン分光システム
高速MCP位置/時間検出システム
高感度冷却InGaAsカメラ ZephIR1.7 / Alize1.7
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX
軟X線分光器
真空紫外分光器（瀬谷－波岡型）
光弾性変調器 PEM
Dual PEMストークスポラリメーター
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA太陽電池セ
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor
マウント付MCP（Advanced Performance Detector)
チャンネルトロン
マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)