製品概要
高感度MCP検出器と独自のディレイラインアノードを組合わせたフォトンカウンティングレベルの微弱な電子、イオン、X線、UV、中性子の高速位置 / 時間検出システムです。TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測が可能です。
ディレイラインアノード動作原理
ディレイラインアノード検出器では導線が90°に交差して（HEXタイプでは60°に交差して）巻かれています。MCPで変換された二次電子が導線に当たると、その位置から導線の両端に向かって電荷が流れます。 二次電子が当たった位置によって、導線の両端に電荷が到達する時間が異なり、この時間差が位置情報となります。 HEXシリーズでは3本の導線が巻かれているので、タイミング間隔が非常に狭い（10ns以下）multi hitの場合や、センターホール付の場合で位置情報を精度よく検出します。
特長
・独自のディレイラインアノード方式
・フォトンカウンティングレベルの微弱荷電粒子の位置/時間測定
・DLDタイプ（2層ディレイライン）とHEXタイプ（3層ディレイライン）
・TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測可能
・有効検出面積40mm、80mm、120mm、150mmから選択
・DLDタイプはマルチパルスペア分解能15 nsから10 ns
・HEXタイプは10 ns以下分解能
・UHV対応可
センターホール付ディレイラインアノード
MCP組付け後のHEX75
用途
・UV、X線粒子イメージング
・質量分析（TOF、SIMS)
・電子顕微鏡（PEEM、TOF-PEEM)
・マルチフラグメントイメージシステム
・電子分光
・残留ガスビームプロファイルモニター
・材料科学（RBS、RHEEM、X-ray及び中性子回折）
など
