製品概要
HINDS社のミュラー行列ポラリメーター Exicor® XTシリーズは、材料が持つあらゆる偏光特性(直線複屈折、円複屈折、線2色性、円2色性、偏光解消)を 高感度かつ短時間にマッピング測定する最新の偏光測定装置です。
本装置は超低レベル複屈折位相差測定装置 Exicor ATシリーズで定評のある位相変調法を発展させた装置であり、 合計4台のPEMによってミュラー行列の16要素全てを測定します。 例えば、位相差フィルムに含まれるわずかな円複屈折(旋光性)や偏光解消成分を測定することができます。 モデル150XTは、光源にHeNeレーザー(633 nm)と150 mmのXYステージを搭載し、簡単な操作でミュラー行列のマッピングをおこないます。
ソフトウェアは測定したミュラー行列から各偏光特性を解析、表示するので、 ミュラー行列に詳しくない方でも使用でき、複屈折以外も測定できる汎用性の高い測定機として使用できます。波長やステージサイズ等のカスタマイズも可能です。ご相談ください。
特長
- ミュラー行列の16要素全てを測定
- 圧倒的な高感度、高精度測定
- あらゆる偏光特性を同時かつ高速測定
- Four PEMテクノロジーによる回転動作等のない安定した測定
- ユーザーフレンドリーで簡単に使えるソフトウェア
- 測定波長(UV〜IR)、サンプルステージなどカスタマイズ可能
アクロマティック位相差フィルムの測定例
直線複屈折のリタデーションおよび進相軸分布だけではなく、わずかな円複屈折の分布が見られます。
