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REFLECTIONインターフェース
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ファイバー型中赤外光源 FIBER
PRECISIONインターフェース
超高繰り返しフェムト秒XUV光源 CALDERA
XUV / IR光学遅延ユニット K2
広域照射 中赤外光源 AURALIS
中赤外フォトンカウンティング検出器 TUNE
蛍光寿命測定装置：FLT-100
フェムト秒ブロードバンドSFG分光システム
Water Vapor Desorption
ポータブルFTIR中赤外反射測定装置
低価格ワイドレンジSWIRカメラ ZephIR 2.5e
VIS ～ NIRワイドレンジファイバー分光器
9103 USBピコアンメーター
ASDEX圧力計
次世代sCMOSカメラ pco.edge 10 bi
超高解像度・高速カメラ pco.edge 26 CLHS
超ワイドレンジ対応高感度カメラ pco.pixelfly 1.3 SWIR
ボロメータシステム（核融合プラズマ装置診断用）
バイオプロセス分析用 プローブラマン分光装置 CellProbe
フーリエ変換フォトルミネッセンス分光光度計 IR5
組込用FTIR-OEMモジュール
Enviro METROSシリーズ
量子輸送測定システム Nanonis Tramea
超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM
フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED
プラスチックアナライザー PolyMax/PolyLab
顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder
オペランドKP-PYS材料分析システム
高性能レーザーラインチューナブルフィルター
高速中赤外分光器 MIDWAVE / BUNDLE
ヘリウム液化システム
超短パルス極紫外(EUV)光源 Pantheon
2D運動量マッピング光電子アナライザー ASTRAIOS 190
静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM
無冷媒SQUID磁束計S700X
超短パルスモードロックチタンサファイアレーザー発振器
高繰返し真空紫外レーザー Hyperion VUV
コヒーレント高次高調波発生システム XUUS
FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計
ブリルアン散乱測定用分光器 Brillouin HYPERFINE
超高感度ｓCMOSカメラ Marana
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
ピコ秒スキャニングSFG分光システム
高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ
卓上型XバンドESR(電子スピン共鳴分光器)
VSMシステム (振動試料型磁力計)
超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)
EBIC･EBACイメージングシステム
環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)
STEM用 CL/PL測定システム Monch
偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ
小型ストークスポラリメーター POLSNAP
環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA
完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS
赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
摩耗・耐久性評価装置 ABREX
AFM/SPMプローブ
TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)
Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)
UST(3次元表面形状測定器)
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS/S-EOS
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30
仕事関数測定システム(APSシリーズ)
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager
高感度冷却InGaAsカメラ ZephIR1.7 / Alize1.7
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX
Dual PEMストークスポラリメーター
エレクトロンジェネレーターアレイ(面出力電子源)
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA太陽電池セ
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor
マウント付MCP（Advanced Performance Detector)
チャンネルトロン
マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)
ポータブルFT-IR分光器（〜NIR）