製品情報
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分析装置
冷却ターゲット反跳イオン運動量分光器 COLTRIMS
倒立型希釈冷凍機 QUPER
高圧ボンブ熱量計 BCA 500
爆発熱量計 DCA25
断熱安全熱量計 ARSST
元素分析・遠隔型LIBS装置 X-Trace
元素分析・可搬型LIBS装置 M-Trace
断熱熱量計 RADEX
Enviro METROSシリーズ
示差式断熱熱量計 DARC
ジャケット式反応器自動化システム Flexy PAT
ガス分析用 プローブラマン分析装置 GasRaman-NOCH
ポータブルFTIRガスセル付分光ユニット GASEX OEM
小型反応熱量計 Super CRC
プラスチックアナライザー PolyMax/PolyLab
超高感度熱脱離分析装置 HEMTO-TDS
オペランドKP-PYS材料分析システム
ヘリウム液化システム
有機合成自動化システム FlexyCUBE(マルチタイプ)
無冷媒SQUID磁束計S700X
半導体ウエハカソードルミネッセンス顕微鏡システム Santis300
ユニバーサルガス分析システム
RGA用分圧ガスモニター
無冷媒希釈冷凍機
ハンディー型大気粒子測定装置
次世代TOF型運動量光電子顕微鏡 METIS1000
発塵検査装置
卓上型XバンドESR(電子スピン共鳴分光器)
VSMシステム (振動試料型磁力計)
超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)
EBIC･EBACイメージングシステム
FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡
環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)
STEM用 CL/PL測定システム Monch
偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ
小型ストークスポラリメーター POLSNAP
微量水分測定装置 Spark H₂O
環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA
完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS
赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
摩耗・耐久性評価装置 ABREX
残留ガス分析計 RGA100/200/300 CIS100/200/300
AFM/SPMプローブ
TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)
Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)
UST(3次元表面形状測定器)
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
超低濃度ガス分析装置 HALO3シリーズ
MPA100型融点測定装置 Optimelt
仕事関数測定システム(APSシリーズ)
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)
顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager
紫外線積算光量計 UIT-250
Dual PEMストークスポラリメーター
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA太陽電池セ
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor