製品概要
当社オリジナルの蛍光寿命測定装置･蛍光スペクトル測定装置は、TCSPC : Time Correlated Single Photon Counting（時間相関単一光子計数法）(リンク先ページへ)を採用し、ナノ秒からマイクロ秒までの蛍光寿命測定が可能です。
高感度分光用CCD検出器や高性能分光器を組み合わせることで、PLスペクトル測定やPLE測定に対応します。また、ラマン分光測定などを組み合わせた複合化システム(リンク先ページへ)にも対応可能です。分析・評価の幅が広げられます。
尚、既存の装置を流用してのシステム構築やコストを考えた段階的なシステムの拡張にもご対応致します。部品単位からフルシステムまで、最適なシステムを幅広くご提案致します。
特長
- TCSPC(時間相関単一光子計数法)モジュールを採用し、
最小100ps以下のIRF（装置応答）、解析後10 ps以下の時間分解能で蛍光寿命測定が可能 - 高繰り返しのピコ秒ダイオードレーザーを採用し、短時間でデータ収集が可能
- 波長可変光源を使用することで、400nm～1100nmまでの励起波長を簡単切替可能
- 分光器に蛍光寿命用検出器や蛍光スペクトル用検出器を同時搭載
- 顕微鏡ベースでシステム構築可能
- サンプルホルダーにクライオスタット搭載可能
用途
- ピコ秒時間分解蛍光寿命測定
- PLスペクトル測定
- 蛍光寿命イメージング測定
- ラマン分光・イメージ測定
- PLE測定
- 強度相関測定（バンチング・アンチバンチング）
構成例：蛍光寿命・蛍光スペクトル測定システム
高繰り返しパルスレーザー、高感度検出器（蛍光寿命・スペクトル測定用）、TCSPCモジュール、分光器、制御用PC、ソフトウェアを組合わせた特注システムです。
構成例：蛍光寿命イメージング測定システム
共焦点レーザー顕微鏡に高繰り返しパルスレーザー、ハイブリットGaAsP検出器、TCSPCモジュールを組合わせたイメージングシステムです。 ガルバノスキャナーの他に、ピエゾステージでのマッピングも可能です。
特注システム納入実績例
二光子蛍光顕微鏡
フェムト秒レーザーと組み合わせた顕微分光光学システムです。分光器とCCDを搭載することにより、スペクトル測定が行えます。
波長可変顕微分光システム
ピコ秒白色レーザーとモノクロメーターとの組合せで励起波長可変でPLE測定に対応します。
検出用の分光器、InGaAsリニアアレイ、InGaAs APDを搭載し、PLスペクトル、TCSPCでの蛍光寿命測定が行えます。
また、顕微鏡下にはクライオスタットを設置し、低温での評価も行えます。
マクロ分光光学系(クライオスタット込み)
フェムト秒レーザー、分光器CCD、SPAD検出器、TCSPC搭載でマクロ分光光学系での蛍光スペクトル・蛍光寿命測定が行えます。
顕微ラマン分光システム
弊社開発のラマン分光装置Nanofinderシリーズに搭載し、複合システムの構築が可能です。
ラマン分光測定、蛍光スペクトル測定、蛍光寿命測定が行えます。
制御用ソフトウェア
蛍光寿命測定用ソフトウェアSPCM/SPC-Image
- TCSPCモジュールの調整･制御
- 蛍光減衰曲線、蛍光寿命イメージのデータ収集
- 蛍光減衰曲線、蛍光寿命イメージの解析
(3成分までのデコンボリューション、フィッティング解析)
蛍光スペクトル測定用ソフトウェアAndorSolis
- CCD検出器、分光器の調整･制御
- 蛍光スペクトルのデータ収集
東京インスツルメンツ製 データ収集用ソフトウェアNanofinder®
- TCSPCモジュール、CCD検出器、分光器の調整･制御
- 蛍光減衰曲線
- 蛍光寿命イメージ
- 蛍光スペクトル
- ラマンスペクトル
- ラマンイメージのデータ収集
