製品概要
EMCCDセンサー搭載の「Newton」。従来の高感度CCDチップに電子増倍機能を持たせ、1～1000倍ゲインで極微弱光を短時間で取り込む画期的なCCD検出器です。EMCCDとしては珍しい横長のセンサーの為、分光用途には最適です。高速高感度測定に効果的なEMモードと、低速高S/N測定に効果的なconventionalモードの使い分けで、短時間露光・長時間露光のどちらの測定にも使える高性能機です。 EMCCDタイプの他に高感度CCDタイプも取り揃えております。
電子増倍機能
EMCCDセンサーはチップ上で電子増倍することで信号強度を高める 画期的なCCDセンサーです。
最大1000倍まで信号強度を上げることで、ノイズに埋もれがちな 微弱光を短時間で測定します。
寿命の短い光を対象とする場合や高速で微弱光を取り込む場合に有効です。
フリンジ低減コーティングを施した背面照射型センサー
背面照射型センサー（BIセンサー）で近赤外光を測定すると、 センサー内のエタロン効果によってフリンジが発生し、分光スペクトルや イメージに縞模様が乗ってしまい、しばしば問題になります。 このBIセンサーでフリンジを低減する場合は、
・BVF
・BR-DD
・BEX2-DD
の3種類からお選びいただけます。
BR-DDとBEX2-DD型は800nm近辺に感度を増強したモデルかつ 高いフリンジ低減性能を有しています。 BVFセンサーは可視光の感度の高い従来のBVセンサーに フリンジ低減のコーティングを施しています。 BVFセンサーはBR－DD、BEX2-DDセンサーと比べて フリンジ低減性能は若干劣りますが、その分ノイズ源となる 暗電流が低く、また価格も安くなります。
特長
- EMCCDチップ搭載で1000倍ゲイン(DU970P、DU971P)
- 量子効率 95%以上 （BVセンサー、＠550 nm)
- -100℃電子冷却(液体窒素、不要)
- 3MHz ADコンバーターを搭載
- 16 bit ダイナミックレンジ
- 近赤外でのフリンジ低減センサーあり(BR-DD、BEX2-DD、BVF)
- 外部トリガー入力/出力
- 各読み出し速度ごとにプリアンプゲインを設定可能
- 高速分光読み出しモードあり(Crop mode)
- 分光モード、イメージモード切替
- USB2.0接続でノートPCからの操作可能
主な用途
- ラマン、蛍光発光、天体等の極微弱光の分光計測
- ポンプ・プローブ1kHzの同期測定
- 寿命の短い微弱光測定(EMCCDが有効)
- 干渉縞測定
- ボーズ・アインシュタイン凝縮イメージング測定
- 単分子発光測定
- フォトンカウンティングレベルの微弱光測定など
用途にあわせた特注ソフトウェア
東京インスツルメンツではお客様の用途に最適なソフトウェアの開発をおこなっております。
下記は特注ソフトウェアの一例です。ご相談ください。
デュアルトラック分光ソフトウェア
Andor TechnologyのICCD検出器(iStar)とSOL Instrument社製デュアルトラック分光器を組み合わせて2波長同時LIBS、高分解能と広帯域の同時計測が可能。
PL測定ソフトウェア
Andor TechnologyのCCD検出器(Newton)とShamrock分光器をを組み合わせてPLマッピング計測。
分光放射強度測定ソフトウェア
Andor TechnologyのCCD検出器と分光器を組み合わせ光源評価。
Camera Windowsオプション対応
測定波長域により、CCD検出器の窓材を感度のあるものへ変更が可能です。
Camera Window Selector – Andor
アプリケーションノート
sCMOSカメラとEMCCDカメラによる、核融合炉のイオン温度とヘリウム密度の測定
Andor Technology社製のsCMOS、EMCCDを使用した荷電交換再結合分光法（CXRS）により、トカマク炉のコア内のイオン温度とヘリウム密度を測定するために使用されます。 CXRSからのプロファイルの分析とパラメータの時間変化の分析により、トカマク内の（ヘリウム）イオンの輸送などの物理現象の解明に使用されます。詳細はコチラ（外部サイト）からご確認いただけます。
技術情報・応用例
Andor TechnologyのWebサイトへリンク
・製品の技術情報や応用例が掲載されています。
弊社Webサイトへリンク
・原理やご質問について「FAQ」をご参照ください。
「関連資料」でスペックシートや技術試料もダウンロードできます。
