XS1型 CW+パルスX線源サンプルチャンバー

X線励起の蛍光・燐光スペクトル、時間分解寿命測定が高感度に可能
溶液・基板・粉体用サンプルホルダーを内部搭載

  • 仕様更新

メーカー名

EDINBURGH INSTRUMENTS

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ED06
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製品概要

XS1型 X線源サンプルチャンバーは、エジンバラインスツルメンツ社製蛍光分光光度計(FLS1000、FS5)と接続して使用できます。
サンプルチャンバーの中にCWおよびパルス発振が可能なX線源が搭載されます。溶液・基板・粉体サンプルをX線で励起し、紫外/可視/近赤外の発光をリキッドライトガイドファイバーで蛍光分光光度計に伝送されます。

XS1型X線源の紹介

1. CW – X線源

  • 小型空冷、最大60 kVの出力エネルギー
  • ターゲット材質 : タングステン(その他の材質も選択可能)
  • スポットサイズ : 400 μm、コーン角 : 48°(X線源の近くにサンプルが配置されます)
  • 高電圧を5 kVから60 kVの間で可変可能(最大出力エネルギーを調整できます)
  • ソフトウェア制御により、最大電圧と最大電流を個別に制御可能
 

2. パルス – X線源

  • 空冷、最大40 kVの出力エネルギー
  • ターゲット材料:タングステン
  • 小型半導体レーザーのパルス光を励起源として、光電面が電子を放出、電子がターゲット 材料(タングステン)を励起、発生するパルスX線は、最小幅100~150 psとなります。 (パルス幅は、半導体レーザーのパルス幅に依存します)
  • HPL-450型450 nmパルス半導体レーザーを標準装備
  • 40 kVの高圧電源と光電面の電流をモニターする電流計を搭載
 

XS1型X線源は、CW -X線源(5 kV/約0.248 nm ~ 60 kV/0.021 nm)、パルス-X線源(40 kV/約0.031 nm)までのX線領域をカバーします。

XS1 外観

XS1 内部構成

X線でサンプルを照射後、蛍光は透過し、180°方向にコリメートされ、リキッドライトガイドファイバーに集光されます。 CWおよびパルスX線源の取り付け位置は、あらかじめ設定されており、ユーザーは手動によって容易に交換が可能です

CW-X線源 内部イメージ

パルス-X線源 内部イメージ

可視光(CW・パルス)直接励起 内部イメージ

X線源チャンバー内のサンプルホルダー

  • 1. 粉体用サンプルホルダー(標準搭載) : 直径25 mm × 厚さ2 mm
  • 2. 基板・フィルム⽤サンプルホルダー(標準搭載) : 直径10〜25 mm × 厚さ3 mm
    円形または⾓形の基板に対応
  • 3. 溶液⽤キュベットホルダー(標準搭載) : 10 × 10 mm
  • 4. 溶液⽤キュベットホルダー(オプション) : 1 × 10 mm
  • 5. 粉体・結晶⽤EPRサンプルホルダー(オプション) : 内径3 mm(単結晶も収納可能)

FS5/FLS1000蛍光分光光度計との接続

  • FLS1000用N-L05、FS5用SC-50型リキッドガイドファイバー光学系を分光光度計内に設置
  • 2 mリキッドガイドファイバーでX線源チャンバーからの蛍光・燐光を容易に伝送可能
  • 標準装備のリキッドライトガイドファイバーは340〜800nmの波⻑範囲です。
    その他の波長にもご要望に応じて対応可能です。

DUV-VIS/LLGファイバー:220 ~ 600 nm

VIS/LLGファイバー:340 ~ 800 nm

VIS-NIR/LLGファイバー:420 ~ 2000 nm

X線の安全性

サンプルチャンバーは、X線が外部に漏れないように設計されています。X線源の電源はチャンバーの蓋と連動しており、サンプル室を開けると自動的にスイッチが切れる仕組みとなっています。

※XS1の安全性は事前に確認されていますが、X線の安全性認証が必要な場合は、各納品先の規定に基づいて対処をお願いします。

アプリケーション


※FRETは、蛍光分子が近接している場合、1つの分子の励起エネルギーが他の分子に共鳴してエネルギー移動する現象を指します。

LAB-PPO液体シンチレーターのX線励起FRET特性

・LAB = linear alkylbenzene(直鎖アルキルベンゼン)
X線を吸収し、PPOにエネルギーを伝達する

・PPO = 2,5-diphenyloxazole(2,5-ジフェニルオキサゾール)
LABで励起された後、FRET効果によって青色に発光する

 

X線励起LAB-PPOのPLスペクトル測定

・XS1のCW X線源とFLS1000型蛍光分光光度計の組み合わせで測定
測定スペクトルは、PPOのPLスペクトルと一致

 

X線励起LAB-PPOのPL時間分解寿命測定

・HPL-450型パルス半導体レーザーで励起したパルス-X線源とFLS1000型蛍光分光光度計の組み合わせで測定
・パルス幅 : ~1 ns
・LAB中のPPO濃度を変化させて測定

 
 
 

製品仕様

XS1型X線源サンプルチャンバー

XS1は、CWおよびパルスX線源の1つもしくは2つの光源を搭載することができます。

N-XS1-CW CW 型X線源(60 kV, 12 W)+ X線サンプルチャンバー
N-XS1-P パルス型X線源(40 kV)+ X線サンプルチャンバー
HPL-450型パルス半導体レーザーと連動、100 psまたは1 nsパルス幅
蛍光・燐光寿命用TCSPC/MCSを搭載
N-XS1-PCW CW+パルス型X線源 + X線サンプルチャンバー
2台の光源を同時搭載、手動で容易に交換可能

CW-X線源の仕様

ターゲット材料(選択可) W:タングステン
Rh:ロジウム
Ag:銀
Cr:クロム
Cu:銅
Mo:モリブデン
HV電圧値 4~60 kV
ビーム電流値 5~1000 µA
最大出力 12 W
スポットサイズ(標準値) 400 µm
冷却方式 強制空冷
操作温度 -10~+65 ℃

パルス-X線源の仕様

ターゲット材料 W:タングステン
HV電圧値 40 kV
推奨ビーム電流値 10 µA
最大ビーム電流値 50 µA
パルス幅 100 psもしくは1 ns

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