ナノ秒～ミリ秒の過渡吸収計測システム
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Tokyo Instruments Inc.
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本システムは、ナノ秒レーザーによって励起されたサンプルのナノ秒～ミリ秒オーダーの過渡吸収スペクトル および蛍光スペクトルを計測する装置です。 本装置により、電子励起状態の緩和過程、光イオン化、光解離、光異性化、酸化還元反応など、 光によって引き起こされるナノ秒時間スケールの高速過程の情報を得ることができます。
・最小時間分解能 5ns
・最小測定可能ΔOD <0.01
・OPOにより紫外～可視域まで広範囲な励起波長に対応可
・自動時間分解吸収･発光スペクトル測定
・液体と固体のサンプルに対応可、反射･透過配置対応可
・用途に合わせたカスタムシステム対応可
・光化学反応物質の反応機構解析
・太陽電池･燃料電池デバイスの解析
・光応答性材料の開発
| システム性能 | |
|---|---|
| 最小時間分解能 | 5 ns |
| 最小測定時間ΔOD | < 0.01 |
| Nd:YAGレーザー | |
| 出力波長 | 1064 / 532 / 355 / 266 nm |
| 出力エネルギー | 180 / 120 / 40 / 25 mJ |
| パルス幅 | 4～5 ns@532 / 355 / 266 nm |
| 繰返し周波数 | 1～15 Hz可変 |
| 光パラメトリック発信器(OPO) (オプション) | |
| 出力波長 | 220～415 nm(シグナル光SHG) 415～710 nm(シグナル光) 710～2300 nm(アイドラ光) |
| 線幅 | <5 cm-1 |
| ICCD検出器 | |
| 検出波長域 | 180～850 nm |
| 最小ゲート幅 | <5 ns |
| 分光器 | |
| 焦点距離 | 350 mm |
| 明るさ | f/3.8 |
| 逆線分散 | 2.37 nm/mm |
| グレーティング搭載枚数 | 4 |
| 出力ポート数 | 2 |
| 参照光用光源 | |
| 光源 | パルスまたはCW Xeランプ |
| 出力波長 | 180～2000 nm(パルスXe) |
| 光学系 | |
| シャッター(PC制御) | 励起光源および参照光用 |
| 励起エネルギー出力調整 | 可変アッテネーター |
| サンプル | 液体および固体 |
| 制御･解析装置 | |
| 制御機能 | ICCD検出器、分光器、シャッター |
| 計測機能 | 過渡吸収スペクトル計測 時間分解蛍光スペクトル計測 |
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