光学素子専用 全自動分光光度計 PHOTON RT

光学素子メーカー生産ライン・製品出荷前検査向け、タクトタイム大幅削減
1台で最大185 ~ 5200 nm連続測定
フラットな光学素子用(フィルター・ミラー・PBSキューブ)
新型InGaAs検出器アップグレード(より低ノイズ・長時間安定したベースライン実現)

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メーカー名

EssentOptics Ltd.

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ES01
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製品概要

PHTORN RT(リトアニア国ESSENT Optics社製)は、光学素子メーカー生産ライン・製品出荷前検査向けに特化された、フラットな光学素子(フィルター・ミラー・PBSキューブ)の評価・品質管理に最適な分光光度計です。

従来の一般的な分光光度計のように、反射・透過測定ごとに専用アクセサリーを交換する必要もなく、1台で最大 185 ~ 5200 nmの測定範囲をカバーしているため、波長レンジごとに測定装置を変える必要もありません。反射測定・透過測定・偏光測定(S/P偏光素子搭載)・角度分解も全自動で切り替えられ、斜入射測定時のビームシフト補正も検出器が自動追尾します。これにより、日々の測定作業効率が大幅に上がり、タクトタイム短縮に寄与します。

最新モデルでは、搭載InGaAs検出器グレードアップにより、更にNIR域での測定精度が向上しました。最新のマルチゾーンフィルター測定用のXY-MZF電動ステージや、貼り合わせプリズム測定など、最新オプティクスの測定にも対応可能となりました。定期波長確認用の校正用水銀ランプ搭載、測定データレポート作成機能搭載と、徹底した光学素子評価・品質管理作業の効率化を図った設計です。

特長

  • 測定波長範囲 : 最大185 ~ 5200 nm(連続測定)
  • 卓上コンパクト設計 : 425 × 625 × 285 mm
  • 全自動角度分解測定 : 透過測定0 ~ 75°、反射測定8 ~ 75°、設定ステップ0.01°
  • 測定手順プログラム構築可能 : 反射/透過/偏光/角度分解 全自動切替
  • 便利な測定レポート作成機能付
  • 特注対応要相談(専用サンプルホルダー他)
  • ビームスポットサイズ : 最小2 mm(可変)

低ノイズ・長時間安定したベールラインを実現

新型InGaAs検出器アップグレードにより更に低ノイズ・長時間安定したベールラインを実現。(下記14時間76回連続スキャンデータ参照)

ビームスポットサイズ 最小2 × 2 mm(可変)

小さなプリズムビームスプリッタも測定可能

各種電動サンプルステージ

サンプルを一旦セットすれば、あとは電動ステージで全て自動位置調整可能。
(付替可能、特注サンプルステージ要相談)

PHOTON RT独自のユニークな測定例

PHOTON RT UV-VIS-MWIR Spectrophotometers for Coaters(essentoptics.com)のFeatures欄も参照ください。

複雑なプリズムのビームオフセット測定

貼合せプリズムのビームオフセット特定にも対応可能

一旦サンプルをセットすれば、B軸とC軸を自動測定可能

1392 nm用ブロードバンドNIRレーザーミラー測定

鏡面絶対反射率最大値 : 99.9953%

可変AOIのビームスプリッター測定

AR/VRデバイスに使用される光学素子の評価

中赤外バンドパスフィルター透過率測定( ~ 5200 nm)

ラインナップ(全3モデル)

型名 測定波長範囲 偏光測定範囲
PHOTON RT 0217 185 ~ 1700 nm 220 ~ 1700 nm
PHOTON RT 0226 185 ~ 2600 nm 220 ~ 2600 nm
PHOTON RT 0252 185 ~ 5200 nm 220 ~ 5200 nm

ESSENT Optics社製 製品ラインアップ一覧

 

製品仕様

仕様

光学系仕様

分光器レイアウト ツェルニターナー型
分光器光学素子 ミラー Al+SiO2 / MgF2 コーティング
対照光束 ダブルビーム方式
波長送り間隔 0.5 ~ 100 nm
波長送り速度 nm/min 3000 nm/min. (5nm間隔で測定)
信号処理 平均化、平滑化、 積分値計算
測定光サイズ 6 × 2 mm
測定パラメーター 透過率, 反射率, 光学濃度, 吸光度
入射角度範囲 透過率測定 : 0 ~ 75度
反射率測定 : 8 ~ 75度
試料テーブルの回転間隔 0.01°
光検出器の回転間隔 0.01°
測定波長範囲 185 ~ 1700nm, 185 ~ 3500nm, 
185 ~ 4900nm, 380 ~ 1700nm,
380 ~ 3500nm, 380 ~ 5200nm
185 ~ 5200nm

分光器仕様

バンドパス 0.6 nm@185 ~ 990 nm
1.2 nm@990 ~ 2450 nm
2.4 nm@2450 ~ 5200 nm
波長正確さ ± 0.24 nm 以下
波長送り繰り返し精度 ± 0.12 nm 以下
迷光 < 0.2 % (@532 nm)
ビーム広がり角 ± 1
測光正確さ ± 0.003Abs (1 Abs) (NIST SRM930使用)
± 0.003Abs (0.33 Abs) (NIST SRM1930使用)
± 0.006Abs (2 Abs) (NIST SRM1930使用)
測光繰り返し精度 ± 0.0004Abs (1 Abs) (NIST SRM930使用)
± 0.0001Abs (0.33 Abs) (NIST SRM1930使用)
± 0.005Abs (2 Abs) (NIST SRM1930使用)
0.1秒積算、10回測定時の最大偏差
ベースライン安定性 0.1%/時 @ UV-VIS (30分暖気運転後)
光源 ハロゲンランプ、重水素ランプ、IRランプ
Hg-Arランプ (波長校正用)
搭載偏光子 380~2200 nm, 220~2200 nm, 220~4900 nm, 380~5200 nm
S、 P、 S+P+(S+P)/2、
Random、 ユーザー定義 S:P比

測定コンポーネント

試料ステージ 12 × 10 mm以上 (透過、反射測定)
独立制御 試料テーブルと検出器部の独立制御
同期制御 試料テーブルと検出器部を測定内容に沿って同期制御
試料サイズ 12 × 10 mm以上 (入射角度10度以下)
12  ×25 mm以上 (入射角度10 ~ 75度)
最大Ø120mm with closed lit –

ユーザーインターフェース、寸法

接続 USB 2.0
消費電力 110 Wt
電源 110/220 VAC, 50/60 Hz
寸法 幅×奥行×高さ W420×D610×H270 mm
重量 45 kg
付属品 PBSキューブステージ、取扱説明書、USBケーブル、
電源ケーブル、ソフトウェア、ハロゲンランプ (予備)

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